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芯能 1200V C4封装混碳产品发布
芯能半导体 芯能半导体 Loading... 2026-06-13

工业控制应用领域,随着对效率及体积的更严苛的要求下,传统的全SI IGBT模块也逐渐满足不了需求,芯能C4封装1200V 混合SIC模块内部使用高功率密度第七代IGBT芯片,搭配SIC SBD芯片,通过优势互补,实现与传统模块的稳定兼容外,进一步提升产品能效与可靠性,为工控变频领域,提供更稳定、更高性能的功率半导体解决方案

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模块拓扑


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核心优势

- 低开关损耗

  1. 反向恢复损耗消除:SiC二极管为单极器件,无少数载流子存储效应,反向恢复时间(trr)缩短,恢复电荷(Qrr)降低。这直接减少了二极管关断时的能量损耗,尤其在高频开关场景下(如电机驱动、光伏逆变器),系统总开关损耗可降低40%-60%。
  2. IGBT开通损耗降低:由于SiC二极管无反向恢复电流,IGBT开通时无需承受额外电流峰值,开通损耗(Eon)显著下降。,采用SiC二极管的IGBT模块总损耗比传统硅方案降低约41%。

- 高系统效率

3.  效率优化:SiC二极管的正向压降(VF)具有正温度系数,利于并联均流,减少局部过热风险。长期运行可节省大量电能。

4.  功率密度提高:开关损耗降低后,系统可在更高开关频率下运行,从而减小滤波电感、电容等无源元件的体积。提高整机功率密度。

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特性对比(VF特性)


结论:SIC SBD VF特性对比SI FRD小0.5V(IF=100A)

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开关损耗优化对比图表


对比模块:1200V 100A模块

测试条件:Vcc=600V, Rg=10Ω,Ic=100A更小

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应用领域


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产品列表


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应用测试对比

母线电压:Vcc=540V

开关频率:Fsw=4kHz

驱动电压:Vge+=15V,Vge-=8V

散热方式:风冷

驱动参数:Rgon=10Ω,Rgoff=5.1Ω

应用平台:


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系统效率对比


整机效率测试结论:相同工况下,混合SIC SBD模块整体系统效率对比SI模块优化0.4%

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系统温升对比

测试条件4KHZ载波;

驱动开关电阻10Ω/5.1Ω;环境温度28℃;VDC:540V;电流峰值100A;底板温度及芯片温度

测试模块:XNG100PI24TC4-S12


测试模块:XNG100PI24TC4


整机温升测试结论:相同工况下,混合SIC SBD模块对比SI 模块晶圆温升降低约10℃


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